摘要：光幕陣列各測量通道存在不均衡性,會導致陣列動態信號傳輸延遲出現差異,直接影響了光幕陣列測試系統的總體性能。為了解決這一問題,提出一種利用半實物仿真的方法進行評估、分析光幕陣列測量通道傳輸特性的方法。為了簡化研究,本課題采用半實物仿真平臺產生兩路并行模擬動態信號,通過采集后進行動態信號的時、頻域分析,基于不同信號參數條件下分析并獲得其傳輸特性及相關變化規律,用校準源信號通過脈沖校準原理來校準。