《Microelectronics Journal》雜志在中科院分區中的情況如下：大類學科：工程技術， 分區：3區； 小類學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：電子與電氣， 分區：3區。

中科院分區決定了SCI期刊在學術界的地位和影響力，對科研人員和學術機構具有重要的參考價值，具體如下：

對SCI期刊的評價：中科院分區通過將SCI期刊按照3年平均影響因子劃分為不同的等級，為科研人員和學術機構提供了一個評估SCI期刊學術影響力的重要依據。分區越高，說明該期刊在學科內的學術影響力越大，發表的文章質量越高。

對科研人員的成果評估：科研人員發表的論文所在的中科院分區，可以作為評估其研究成果質量的一個指標。

對科研資源的分配：中科院分區在科研資源分配方面也起到重要作用。科研機構在制定科研政策、分配科研資源時，會參考中科院分區。

對科研人員投稿的指導：中科院分區為科研人員選擇投稿期刊提供了參考。科研人員在選擇投稿期刊時，會參考中科院分區，以提高論文被接受的可能性，并增加研究成果的影響力。

《Microelectronics Journal》雜志是一本專注于工程：電子與電氣領域的國際期刊，由Elsevier?出版，創刊于1967年，出版周期為Monthly。

《微電子學雜志》自 1969 年創刊以來，是一個傳播微電子系統、電路和新興技術研究和應用的國際論壇。《微電子學雜志》上發表的論文都經過同行評審，以確保其原創性、相關性和時效性。因此，該雜志提供了有關微電子電路和系統的全球定期全面更新。

《微電子學雜志》誠邀撰寫描述以下所有領域重要研究和應用的論文。涵蓋最新發展的綜合評論/調查論文也將予以考慮。《微電子學雜志》涵蓋電路和系統。該主題包括但不限于：模擬、數字、混合和射頻電路及相關設計方法；邏輯、架構和系統級綜合；測試、可測試性設計、內置自測試；面積、功率和熱分析與設計；混合域仿真與設計；嵌入式系統；非馮諾依曼計算及相關技術和電路；高復雜度系統集成的設計和測試； SoC、NoC、SIP 和 NIP 設計和測試；3-D 集成設計和分析；新興器件技術和電路，如 FinFET、SET、自旋電子學、SFQ、MTJ 等。

也歡迎應用方面，例如信號和圖像處理（包括密碼電路）、傳感器和執行器（包括傳感器網絡）、可靠性和質量問題以及經濟模型。

《Microelectronics Journal》雜志學術影響力具體如下：

在學術影響力方面，IF影響因子為1.9，顯示出其在工程：電子與電氣學領域的學術影響力和認可度。

JCR分區：Q3

按JIF指標學科分區，在學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC中為Q3，排名：211 / 352，百分位：40.2%；NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY中為Q4，排名：110 / 140，百分位：21.8%；

按JCI指標學科分區，在學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC中為Q3，排名：238 / 354，百分位：32.91%；NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY中為Q3，排名：94 / 140，百分位：33.21%；

《Microelectronics Journal》雜志的審稿周期預計為：平均審稿速度 約3.0個月 ，投稿需滿足English撰寫，期刊注重原創性與學術嚴謹性，明確拒絕抄襲或一稿多投，Gold OA占比：2.61%，這使得更多的研究人員能夠免費獲取和引用這些高質量的研究成果。

該雜志其他關鍵數據：

CiteScore分區（數據版本：2024年最新版）：4，進一步證明了其學術貢獻和影響力。

H指數：59，年發文量：293篇

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