發表《Microelectronics Journal》雜志多久能被SCI數據庫收錄?
來源:優發表網整理 2024-09-18 10:49:27 569人看過
通常情況下,《Microelectronics Journal》雜志發表的文章被SCIE數據庫收錄的時間沒有固定標準,若想了解詳細、準確的具體情況,建議直接與雜志社取得聯系或者向在線客服進行咨詢。
多久能被SCI數據庫一般可以歸納出以下情況:
論文發表后到在線時間:SCI論文發表后,一般需要大約3個月的時間才能在期刊官網上線,這是論文初次對外公開的時間點。
在線后到數據庫檢索時間:論文在線后,通常還需要1-3個月的時間才能在Web of Science(WOS)數據庫中檢索到,這個過程被稱為論文的索引或收錄。
整體時間周期:從投稿到論文被SCI數據庫收錄,整個周期大概需要一年左右的時間。具體來說,投稿后可能需要5-6個月收到接收通知,然后經過2-3個月論文會在官網上線,再之后2-3個月論文會被WOS數據庫收錄。
然而,這個時間周期并不是絕對的,它受到多種因素的影響,如:期刊類型、論文質量、數據庫更新等。
《Microelectronics Journal》雜志已被SCIE國際知名數據庫收錄,在JCR分區中位于ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC學科Q3區NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY學科Q4區,在CiteScore評價中位于Physics and Astronomy學科的Q2區Physics and Astronomy學科的Q2區Physics and Astronomy學科的Q2區Physics and Astronomy學科的Q2區Physics and Astronomy學科的Q2區具有較高的學術影響力,在該領域受到廣泛認可。
WOS分區(數據版本:2023-2024年最新版)
按JIF指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 211 / 352 |
40.2% |
學科:NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q4 | 110 / 140 |
21.8% |
按JCI指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 238 / 354 |
32.91% |
學科:NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q3 | 94 / 140 |
33.21% |
名詞解釋:
WOS即Web of Science,是全球獲取學術信息的重要數據庫,Web of Science包括自然科學、社會科學、藝術與人文領域的信息,來自全世界近9,000種最負盛名的高影響力研究期刊及12,000多種學術會議多學科內容。給期刊分區時會按照某一個學科領域劃分,根據這一學科所有按照影響因子數值降序排名,然后平均分成4等份,期刊影響因子值高的就會在高分區中,最后的劃分結果分別是Q1,Q2,Q3,Q4,Q1代表質量最高。
CiteScore分區(數據版本:2024年最新版)
CiteScore | SJR | SNIP | CiteScore排名 | ||||||||||||||||||||||||
4 | 0.39 | 0.854 |
|
名詞解釋:
CiteScore:衡量期刊所發表文獻的平均受引用次數。
SJR:SCImago 期刊等級衡量經過加權后的期刊受引用次數。引用次數的加權值由施引期刊的學科領域和聲望 (SJR) 決定。
SNIP:每篇文章中來源出版物的標準化影響將實際受引用情況對照期刊所屬學科領域中預期的受引用情況進行衡量。
作為一本專注于工程技術 - 工程:電子與電氣領域的學術期刊,它致力于發表高質量的研究論文和為相關領域的研究人員提供重要的學術資源。
該雜志出版周期是Monthly,平均審稿速度預計為: 約3.0個月 。
《微電子學雜志》自 1969 年創刊以來,是一個傳播微電子系統、電路和新興技術研究和應用的國際論壇。《微電子學雜志》上發表的論文都經過同行評審,以確保其原創性、相關性和時效性。因此,該雜志提供了有關微電子電路和系統的全球定期全面更新。
《微電子學雜志》誠邀撰寫描述以下所有領域重要研究和應用的論文。涵蓋最新發展的綜合評論/調查論文也將予以考慮。《微電子學雜志》涵蓋電路和系統。該主題包括但不限于:模擬、數字、混合和射頻電路及相關設計方法;邏輯、架構和系統級綜合;測試、可測試性設計、內置自測試;面積、功率和熱分析與設計;混合域仿真與設計;嵌入式系統;非馮諾依曼計算及相關技術和電路;高復雜度系統集成的設計和測試; SoC、NoC、SIP 和 NIP 設計和測試;3-D 集成設計和分析;新興器件技術和電路,如 FinFET、SET、自旋電子學、SFQ、MTJ 等。
也歡迎應用方面,例如信號和圖像處理(包括密碼電路)、傳感器和執行器(包括傳感器網絡)、可靠性和質量問題以及經濟模型。
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